介電頻譜測試儀是模塊化的，整合的研究系統(tǒng)，可用來測試從絕緣體到導體的大部分材料的電學性質(zhì)。此測試系統(tǒng)即提供時域技術(shù)，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓（I-V）確定材料的電學性能；又提供AC技術(shù)如阻抗、電容、C-V來提供更多細節(jié)信息進一步分析材料的導電機理。適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究科研機關(guān)、高校、工廠等地方。它是在特殊環(huán)境下，測量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。

　　介電頻譜測試儀為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是較好的頻響分析儀的能力。單獨使用時，已不能有效地解決上述問題。接口克服了這些限制，提供一個范圍過了12個數(shù)量級的快速可重復的阻抗測量，阻抗測量過100TΩ（1014Ω），可洞察各種材料包括聚合物、橡膠、木材、粘膠劑、電子元件、石臘及油類等的特性。與易于操作的軟件相結(jié)合，系統(tǒng)能照應實驗技術(shù)而讓你集中精力于所得結(jié)果的分析。

　　介電頻譜測試儀的主要用途：

　　無源元件：可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

　　半導體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。

　　其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。

　　介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估。

　　磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。

　　半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性。

　　液晶材料：介電頻譜測試儀還可用于液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。